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電子開關(guān)元器材的可靠性:

發(fā)布日期:2018-05-27 瀏覽次數(shù): 1609
元器材牢靠性問題即根本失功率的問題,這是一種隨機(jī)性質(zhì)的失效,與質(zhì)量問題的區(qū)別是元器材的失功率取決于作業(yè)應(yīng)力水平。撥碼開關(guān)在必定的應(yīng)力水平下,元器材的 失功率會(huì)大大下降。為除掉不符合運(yùn)用要求的元器材,包含電參數(shù)不合格、密封性能不合格、外觀不合格、穩(wěn)定性差、前期失效等,應(yīng)進(jìn)行挑選實(shí)驗(yàn),這是一種非破 壞性實(shí)驗(yàn)。經(jīng)過挑選可使元器材失功率下降1~2個(gè)數(shù)量級(jí),當(dāng)然挑選實(shí)驗(yàn)價(jià)值(時(shí)刻與費(fèi)用)很大,但歸納修理、后勤保障、整架聯(lián)試等仍是合算的,研發(fā)周期也 不會(huì)延伸。電源設(shè)備首要元器材的挑選實(shí)驗(yàn)一般要求:

①電阻在室溫下按技能條件進(jìn)行100%測(cè)驗(yàn),除掉不合格品。

②一般電容器在室溫下按技能條件進(jìn)行100%測(cè)驗(yàn),除掉不合格品。

③接插件按技能條件抽樣檢測(cè)各種參數(shù)。

④半導(dǎo)體器材按以下程序進(jìn)行挑選:

目檢→初測(cè)→高溫貯存→高低溫沖擊→電功率老化→高溫測(cè)驗(yàn)→低溫測(cè)驗(yàn)→常溫測(cè)驗(yàn)

挑選結(jié)束后應(yīng)核算除掉率Q

Q=(n / N)×100%

式中:N——受試樣品總數(shù);

n——被除掉的樣品數(shù);

假如Q超越規(guī)范規(guī)則的上限值,則本批元器材悉數(shù)禁絕上機(jī),并按有關(guān)規(guī)則處理。

在符合規(guī)范規(guī)則時(shí),KE則將挑選合格的元器材打漆點(diǎn)標(biāo)示,然后入專用庫房供裝機(jī)運(yùn)用。

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